QFN, QFP, Socket
QFN/QFP35 测试插座专为测试高性能的四方扁平无引脚（QFN）、四方扁平封装（QFP）、双侧引脚扁平封装（DFN）以及小形状封装（SO）等种种封装而设计！！！！！！
适用于产品开发、特征剖析、高速老化测试以及小批量生产的手动测试环节；
主要特点：：
适配QFN、QFP、DFN和SOIC 封装！！！！！！
可用于：：芯片开发、认证、高速老化、小批量生产！！！！！！
微型冲压触点，，，极短信号路径！！！！！！
去耦空间，，，允许在近器件位置放置无源器件！！！！！！
适用多个兼容接地触点，，，可降低接地电感！！！！！！
适用于产品开发、特征剖析、高速老化测试以及小批量生产的手动测试环节；
主要特点：：
适配QFN、QFP、DFN和SOIC 封装！！！！！！
可用于：：芯片开发、认证、高速老化、小批量生产！！！！！！
微型冲压触点，，，极短信号路径！！！！！！
去耦空间，，，允许在近器件位置放置无源器件！！！！！！
适用多个兼容接地触点，，，可降低接地电感！！！！！！
